透射电子显微镜（TEM）是一种通过电子束穿过样品，与样品中的原子相互作用，形成图像，可以分辨非常小的结构细节（高分辨）的显微镜技术。那么，TESCAN透射电子显微镜有何不同之处？接下来就让小编来为大家简单介绍一下： 首先，TESCAN TENSOR新型扫描透射电子显微镜(STEM)，为材料科学家、半导体技术专家和STEM技术开发者等各类用户，提供了一种简便、精确的样品形态、化学成分及结构特征分析手段。在这款新型分析型STEM显微镜的设计中，集成了最先进的组件，如带有混合像素技术的直接电子探测相机、电子束旋进衍射附件、静电束闸和双EDS探测器。 TESCAN透射电子显微镜超高真空控制单元在样品区域提供接近超高的真空度，并且可以忽略其中的碳氢化合物污染。所有这些组件的充分集成促进了它们的精确同步，提高了它们的性能，以及STEM、 EDS和4D-STEM测量的数据处理量。 此外，TENSOR新型扫描透射电子显微镜控制界面以单一用户设置，提供无缝的用户体验，采集的数据可以实时处理和分析，几乎实时可视化，使样品表征成为一种交互式体验，而不是批量数据采集和后期处理。同时，先进的实时自动化系统校准调整STEM成像、STEM分析和4D-STEM纳米光束设置，使用户操作便捷性体验可与SEM和FIB/SEM仪器相媲美。 关于TESCAN透射电子显微镜的不同之处，小编就先为大家简单的介绍到这里。总而言之，通过应用此产品，用户可以最大限度地减少镜筒调整和校准所花费的时间，其检测分析效率将会大大提高。若用户对此产品还有其他疑问，可以通过TESCAN泰思肯的官网来进一步咨询了解。
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